概述:
CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是為檢查夏比V型或U型沖擊試樣缺口質(zhì)量而設計、開發(fā)的一種專用光學儀器,與刻在投影屏上的沖擊試樣缺口標準樣板圖進行對比,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,對比直觀,操作簡單,效率高,是理化試驗室的必備專用設備。
技術(shù)參數(shù):
投影屏: ¢200mm
放大倍數(shù): 50X
光源: 12V 100W(鹵鎢燈)
電源: 220V 50Hz 150W
外型尺寸: 515×224×603mm
重量: 約18Kg
寧經(jīng)理
李經(jīng)理
郇經(jīng)理